JT1400 金屬探測(cè)儀的常見(jiàn)類(lèi)型有哪些？WVD

金屬探測(cè)儀的類(lèi)型豐富，分類(lèi)方式多樣，常見(jiàn)的分類(lèi)依據(jù)包括工作原理、應(yīng)用場(chǎng)景、探測(cè)對(duì)象形態(tài)等。以下是按不同維度劃分的常見(jiàn)類(lèi)型：
一、按工作原理劃分（核心分類(lèi)）
甚低頻（VLF）金屬探測(cè)儀
原理：發(fā)射線(xiàn)圈產(chǎn)生低頻交變磁場(chǎng)，接收線(xiàn)圈檢測(cè)磁場(chǎng)畸變（由金屬渦流引發(fā)的相位變化），通過(guò)相位差異區(qū)分金屬類(lèi)型。
特點(diǎn)：結(jié)構(gòu)緊湊，可區(qū)分鐵磁性（如鐵、鋼）和非鐵磁性金屬（如銅、金、鋁），靈敏度高，適合淺表層探測(cè)。
應(yīng)用：常見(jiàn)于尋寶、考古、安檢（手持設(shè)備）、工業(yè)小件檢測(cè)等。
脈沖感應(yīng)（PI）金屬探測(cè)儀
原理：發(fā)射線(xiàn)圈發(fā)射短暫強(qiáng)電流脈沖，產(chǎn)生瞬間磁場(chǎng)；金屬渦流在脈沖間隙產(chǎn)生衰減的二次磁場(chǎng)，接收線(xiàn)圈檢測(cè)該衰減信號(hào)。
特點(diǎn)：不受高礦化土壤（含礦物質(zhì)多的土壤）干擾，探測(cè)深度大，適合潮濕、鹽堿地等復(fù)雜環(huán)境。
應(yīng)用：深海探測(cè)、大深度尋寶、地質(zhì)勘探等。
beat-Frequency Oscillation（BFO）探測(cè)儀
原理：發(fā)射與接收線(xiàn)圈共用電路，金屬進(jìn)入會(huì)導(dǎo)致振蕩頻率偏移，通過(guò)頻率變化判斷金屬存在。
特點(diǎn)：結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低，但精度低、抗干擾差，無(wú)法區(qū)分金屬類(lèi)型。
應(yīng)用：入門(mén)級(jí)尋寶玩具、簡(jiǎn)單安檢場(chǎng)景。
高頻振蕩式探測(cè)儀
原理：利用高頻電磁場(chǎng)（通常 100kHz 以上），金屬進(jìn)入會(huì)導(dǎo)致振蕩回路參數(shù)變化，通過(guò)信號(hào)衰減判斷。
特點(diǎn)：對(duì)小尺寸金屬（如細(xì)鐵絲）敏感，適合高精度小件檢測(cè)。
應(yīng)用：食品、藥品包裝中的金屬雜質(zhì)檢測(cè)。

二、按應(yīng)用場(chǎng)景劃分

工業(yè)用金屬探測(cè)儀
管道式 / 輸送式：安裝在生產(chǎn)線(xiàn)（如食品、醫(yī)藥、塑料加工）的輸送帶上，檢測(cè)原料或成品中的金屬雜質(zhì)（如鐵屑、銅粒）。
手持式工業(yè)檢測(cè)儀：用于設(shè)備維修時(shí)排查金屬異物（如機(jī)械內(nèi)部的斷裂螺栓）。
地下管線(xiàn)探測(cè)儀：專(zhuān)門(mén)探測(cè)地下金屬管道、電纜，通過(guò)發(fā)射特定頻率信號(hào)，接收管線(xiàn)反射的信號(hào)定位。
公共安全用金屬探測(cè)儀
手持金屬探測(cè)器：小巧便攜，用于車(chē)站、機(jī)場(chǎng)、會(huì)場(chǎng)等場(chǎng)所的人身安檢，檢測(cè)刀具、*支等金屬違禁品。
安檢門(mén)（金屬探測(cè)門(mén)）：通過(guò)多組線(xiàn)圈形成磁場(chǎng)區(qū)域，人員經(jīng)過(guò)時(shí)檢測(cè)攜帶的金屬物品，廣泛應(yīng)用于公共交通樞紐、大型活動(dòng)場(chǎng)館。
戶(hù)外探測(cè)用金屬探測(cè)儀
尋寶 / 考古探測(cè)儀：多為 VLF 或 PI 型，可探測(cè)地下*幣、首飾、古器物等，部分帶防水功能，適合陸地或淺灘使用。
金礦 / 金屬礦探測(cè)儀：針對(duì)礦物探測(cè)優(yōu)化，能在高礦化環(huán)境中識(shí)別金、銀等貴金屬礦石。
水下金屬探測(cè)儀：防水設(shè)計(jì)，用于水下尋寶、沉船打撈、水下工程安全檢查。
其他專(zhuān)用類(lèi)型
醫(yī)療用金屬探測(cè)儀：如手術(shù)中檢測(cè)遺留在患者體內(nèi)的金屬異物（如縫合針）。
食品級(jí)金屬探測(cè)儀：符合食品安全標(biāo)準(zhǔn)，檢測(cè)食品（如肉類(lèi)、糕點(diǎn)）中的金屬雜質(zhì)，避免污染。
工業(yè)無(wú)損檢測(cè)用：檢測(cè)金屬構(gòu)件內(nèi)部的裂紋、氣孔等缺陷（需配合其他技術(shù)）。
三、按探測(cè)對(duì)象形態(tài)劃分
塊狀金屬探測(cè)儀：主要檢測(cè)較大體積的金屬物體（如工具、武器）。
顆粒 / 絲狀金屬探測(cè)儀：針對(duì)細(xì)小金屬（如金屬粉末、細(xì)鐵絲），常見(jiàn)于食品、紡織行業(yè)。

不同類(lèi)型的金屬探測(cè)儀在靈敏度、抗干擾能力、適用環(huán)境上差異顯著，選擇時(shí)需根據(jù)具體需求（如探測(cè)深度、目標(biāo)金屬類(lèi)型、使用場(chǎng)景）匹配。