產(chǎn)品詳情
Keysight i3070 回收 ICT 系統(tǒng)
歐陽R:13537；；229325
E9988GL 在線高密度 ICT 系統(tǒng)；7i 系列
E9988GL Keysight i3070 系列 7i 在線高密度在線測試 (ICT) 系統(tǒng)將業(yè)界領(lǐng) 的 ICT 技術(shù)引入您的自動化生產(chǎn)線，節(jié)省資源并優(yōu)化您的自動化測試策略。
Keysight i3070 系列 7i 在線測試系統(tǒng) — 助您實(shí)現(xiàn) 的測試覆蓋率和增強(qiáng)的吞吐量。
7i 系列采用 的四密度針卡，可容納多達(dá) 5760 個測試節(jié)點(diǎn)，同時保持 800 毫米寬的纖薄占地面積。容量增加后，可為復(fù)雜的測試要求提供更多資源，并可處理更大的面板，同時節(jié)省電路板處理和傳輸時間。
請放心，您的投資是安全的，因?yàn)?7i 系列保證與當(dāng)前的 E9988E 和 E9988EL 測試程序和裝置完全向后兼容。
雙倍測試節(jié)點(diǎn)：可容納多達(dá) 2 倍的測試節(jié)點(diǎn)，同時保持緊湊的占用空間。
集成超級電容器測試：通過可用的集成解決方案輕松測試高達(dá) 100 法拉 (F) 的超級電容器。
實(shí)現(xiàn)低電流測量：實(shí)現(xiàn)低至 100 納安 (nA) 的測量，簡化開發(fā)時間。
加速短路測試：與傳統(tǒng)方法相比，執(zhí)行增強(qiáng)型短路測試算法的速度提高 50%。
增強(qiáng)覆蓋范圍：通過自動集群測試生成提高覆蓋范圍。
方便擴(kuò)展：提供內(nèi)置功能端口，用于擴(kuò)展測試能力。
克服訪問限制：集成 x1149 邊界掃描分析儀來克服受限的測試訪問。
如欲了解有關(guān) Keysight ICT 系統(tǒng)
歐陽R:13537；；229325
E9988GL 在線高密度 ICT 系統(tǒng)；7i 系列
E9988GL Keysight i3070 系列 7i 在線高密度在線測試 (ICT) 系統(tǒng)將業(yè)界領(lǐng) 的 ICT 技術(shù)引入您的自動化生產(chǎn)線，節(jié)省資源并優(yōu)化您的自動化測試策略。
Keysight i3070 系列 7i 在線測試系統(tǒng) — 助您實(shí)現(xiàn) 的測試覆蓋率和增強(qiáng)的吞吐量。
7i 系列采用 的四密度針卡，可容納多達(dá) 5760 個測試節(jié)點(diǎn)，同時保持 800 毫米寬的纖薄占地面積。容量增加后，可為復(fù)雜的測試要求提供更多資源，并可處理更大的面板，同時節(jié)省電路板處理和傳輸時間。
請放心，您的投資是安全的，因?yàn)?7i 系列保證與當(dāng)前的 E9988E 和 E9988EL 測試程序和裝置完全向后兼容。
雙倍測試節(jié)點(diǎn)：可容納多達(dá) 2 倍的測試節(jié)點(diǎn)，同時保持緊湊的占用空間。
集成超級電容器測試：通過可用的集成解決方案輕松測試高達(dá) 100 法拉 (F) 的超級電容器。
實(shí)現(xiàn)低電流測量：實(shí)現(xiàn)低至 100 納安 (nA) 的測量，簡化開發(fā)時間。
加速短路測試：與傳統(tǒng)方法相比，執(zhí)行增強(qiáng)型短路測試算法的速度提高 50%。
增強(qiáng)覆蓋范圍：通過自動集群測試生成提高覆蓋范圍。
方便擴(kuò)展：提供內(nèi)置功能端口，用于擴(kuò)展測試能力。
克服訪問限制：集成 x1149 邊界掃描分析儀來克服受限的測試訪問。
如欲了解有關(guān) Keysight ICT 系統(tǒng)
