PULSEYW2000 導(dǎo)波雷達(dá)液位計(jì)出現(xiàn)測(cè)量偏差的原因有哪些？WVD

導(dǎo)波雷達(dá)液位計(jì)出現(xiàn)測(cè)量偏差，核心原因可分為設(shè)備安裝與選型不當(dāng)、工況與介質(zhì)干擾、設(shè)備自身故障三大類，具體如下：
安裝與選型類原因
安裝位置不合理：若探頭過(guò)于靠近罐壁、進(jìn)料口、攪拌器或障礙物，會(huì)產(chǎn)生虛假回波干擾，導(dǎo)致液位讀數(shù)偏高或波動(dòng)。此外，探頭未垂直安裝、插入深度不足或過(guò)長(zhǎng)，也會(huì)破壞雷達(dá)波傳導(dǎo)路徑，引發(fā)測(cè)量偏差。
探頭選型不匹配：針對(duì)高粘度、強(qiáng)粘附介質(zhì)，未選用防粘附涂層的探頭，介質(zhì)會(huì)附著在導(dǎo)波桿 / 纜表面形成 “虛假液位”；針對(duì)腐蝕性介質(zhì)，探頭材質(zhì)與介質(zhì)不兼容，會(huì)出現(xiàn)探頭腐蝕、磨損，影響信號(hào)傳導(dǎo)。
量程與零點(diǎn)設(shè)置錯(cuò)誤：未根據(jù)實(shí)際罐高、死區(qū)范圍準(zhǔn)確設(shè)置量程和零點(diǎn)，或校準(zhǔn)過(guò)程中未排空罐內(nèi)介質(zhì)，會(huì)直接導(dǎo)致測(cè)量值與實(shí)際液位出現(xiàn)固定偏差。
工況與介質(zhì)干擾類原因
介質(zhì)特性影響：介質(zhì)介電常數(shù)過(guò)低（＜1.8）時(shí)，雷達(dá)波反射信號(hào)微弱，儀表難以捕捉真實(shí)液位回波，易出現(xiàn)讀數(shù)漂移；介質(zhì)溫度、壓力劇烈波動(dòng)，會(huì)改變導(dǎo)波桿的物理特性（如熱脹冷縮），間接影響測(cè)量精度。
罐內(nèi)復(fù)雜工況干擾：罐內(nèi)存在大量蒸汽、冷凝水或泡沫，會(huì)吸收或散射雷達(dá)波，導(dǎo)致真實(shí)液位回波被掩蓋；介質(zhì)中含有大量氣泡、懸浮物，或頻繁出現(xiàn)液位劇烈波動(dòng)，也會(huì)造成回波信號(hào)不穩(wěn)定，引發(fā)偏差。
固體介質(zhì)的特殊問(wèn)題：測(cè)量粉料時(shí)，物料架橋、結(jié)塊或堆積密度不均勻，會(huì)導(dǎo)致探頭表面粘附物料，形成虛假回波；物料顆粒過(guò)大或流動(dòng)性差，會(huì)造成雷達(dá)波傳導(dǎo)受阻。
設(shè)備自身故障類原因
探頭結(jié)垢或損壞：長(zhǎng)期使用后，探頭表面結(jié)垢、腐蝕或磨損，會(huì)阻礙雷達(dá)波傳播；導(dǎo)波桿 / 纜出現(xiàn)彎曲、斷裂，會(huì)直接導(dǎo)致信號(hào)中斷或失真。
電子部件故障：儀表的發(fā)射 / 接收模塊老化、信號(hào)處理板故障，會(huì)造成回波信號(hào)解析錯(cuò)誤；電源電壓不穩(wěn)定或接地不良，會(huì)引入電磁干擾，影響測(cè)量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性。

固件或參數(shù)設(shè)置問(wèn)題：儀表固件版本過(guò)低，存在軟件漏洞；虛假回波抑制參數(shù)設(shè)置不當(dāng)，未有效過(guò)濾干擾回波，會(huì)導(dǎo)致真實(shí)液位信號(hào)被誤判。