產(chǎn)品詳情
一般認為測試系統(tǒng)都是通用的，其實大部分測試系統(tǒng)的設(shè)計都是面向?qū)ｉT類型的集成電路，harmonic集成模塊諧波FHA-32C-100-E250-C這些專門的電路包括：存儲器、數(shù)字電路、模擬電路和混合信號電路
我們一般認為存儲器是數(shù)字的，而且很多DC測試參數(shù)對于存儲類和非存儲類的harmonic集成模塊諧波FHA-32C-100-E250-C數(shù)字器件是通用的，雖然如此，存儲器的測試還是用到了一些獨特的功能測試過程。帶內(nèi)存的自動測試系統(tǒng)使用一種算法模式生成器（APG，algorithmic pattern generator）去生成功能測試模型，使得從硬件上生成復雜的功能測試序列成為可能，這樣我們harmonic集成模塊諧波FHA-32C-100-E250-C就不用把它們當作測試向量來保存。存儲器測試的一些典型模型包括：棋盤法、反棋盤法、走0、走1、蝶形法，等等…… APG在器件的每次測試時生成測試模型，而不帶內(nèi)存的測試系統(tǒng)將預先生成的模型保存到向量存儲區(qū)，然后每次測試時從中取出數(shù)據(jù)。
