產(chǎn)品詳情
瑞典XCounter 雙能探測(cè)器
產(chǎn)品描述???FX系列
XC-FLITE FX1、FX2、FX3是直接數(shù)字轉(zhuǎn)換、雙能采集、光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器,用于數(shù)字X射線成像系統(tǒng),基于新型強(qiáng)大的CdTe-CMOS傳感器平臺(tái)研發(fā)而成,XC-FLITE X系列適用于潛在寬泛的能量范圍。
XC-FLITE X系列可以基于幀率成像,也可以采用時(shí)間延遲總和(TDS)模式。
引進(jìn)反符合技術(shù)的雙能采集功能,是XC-FLITE FX系列產(chǎn)品的先進(jìn)之處,在雙能采集過(guò)程中,收集到的光子能量分別設(shè)置為兩個(gè)獨(dú)立的閾值,并分別讀出,兩個(gè)能量設(shè)置可以用來(lái)區(qū)分材料,為醫(yī)療和工業(yè)新成像技術(shù)開(kāi)啟了大門。反符合技術(shù)的引進(jìn),可以通過(guò)保證將每一個(gè)光子信號(hào)分布在正確的像素點(diǎn)上,以獲取更高的能量分辨率。 ?
集成
XC-FLITE FX系列,通過(guò)GigE接口將XC-FLITE FX系列連接到計(jì)算機(jī)上,自帶靈活的軟件開(kāi)發(fā)包,可控制所有XC-FLITE FX的功能;可用在Windows XP、Vista、Windows7和Windows8系統(tǒng)平臺(tái)
應(yīng)用
*小范圍輻照???
*小動(dòng)物成像
*實(shí)驗(yàn)室樣品和標(biāo)本成像????
*工業(yè)檢測(cè)(NDT)
特點(diǎn)&優(yōu)勢(shì)
*三種尺寸可選
*CdTe-CMOS傳感器,高品質(zhì)成像
*雙能采集,具有材料區(qū)分能力
*反符合技術(shù),卓越的能量分辨率
*可基于幀率成像,也可以選擇時(shí)間延遲總和(TDS)模式
*兼容Windows操作系統(tǒng),從XP到Windows8
*綁定強(qiáng)大的可編程的開(kāi)發(fā)軟件?
基本參數(shù)
物理參數(shù) |
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尺寸 (L×W×H) |
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XC-FLITE FX1:23.1×13.1×6.0 cm |
溫度控制 |
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內(nèi)部的珀?duì)柼?yīng)溫度控制 |
環(huán)境溫度 |
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+10 - +40℃ |
儲(chǔ)藏溫度 |
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-10-+60℃ @ 10% to 95% 濕度 |
射線窗 |
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碳纖維, 厚500μm |
射線屏蔽 |
? |
根據(jù)應(yīng)用 |
傳感器 |
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? |
傳感器數(shù)量 |
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FX1:1?? FX2:2??? FX3:3 |
傳感器類型 |
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雙能光子計(jì)數(shù) CdTe-CMOS |
傳感器厚度 |
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0.75mm-2.0mm CdTe |
有效面積 |
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FX1:154.7×12.8mm (1536×128像素) |
像素 |
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100μm |
像素填充率 |
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100% |
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? |
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性能 |
? |
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幀率 |
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1000 fps(也可選擇時(shí)間延遲求和模式) |
動(dòng)態(tài)范圍 |
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12 bits |
圖像面元 |
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1×1,2×2,4×4 |
成像時(shí)間 |
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100μs-5s |
DQE(0) |
? |
85%@RQA5 spectra |
MTF |
? |
>80% @ 2lp/mm?? |
管KV范圍 |
? |
15-250kVp |
內(nèi)部測(cè)試圖樣 |
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Pseudo-random debug pattern |
外部觸發(fā)輸出 |
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3.3V TTL |
輸入 |
? |
5V |
滯后 |
? |
0% |
拖影 |
? |
<0.1%? X射線開(kāi)啟后1分鐘,(12μGy) |
分辨率和DQE曲線 (反符合開(kāi)CC on和閉CC off)??