產(chǎn)品詳情
Seica Pilot4D Line
Pilot4D V8是飛針測試領(lǐng)域中的最新引領(lǐng)產(chǎn)品，它完善的測試手段可以滿足使用者的最大需求：超高的測試速度、適應小批量到中等批量的測試要求、全測試覆蓋率和柔性的應用。這一切，不論是樣產(chǎn)還是生產(chǎn)業(yè)或維修客戶均可以應對各種類型的電路板的測試。更是由于它的立式結(jié)構(gòu)，可以對UUT雙面同時運行飛針測試，凸顯出Pilot4D V8無與倫比的優(yōu)勢！在保證了速度快、精度高、可靠性好以及測針重復性一致性的前提下，不但大大增加了測試量，而且也提高了使用的靈活性。同時，可以配置所有的移動測試資源，應用到 UUT測試中。這種一次性雙面飛針測試的解決方案是一項非常重大的技術(shù)創(chuàng)舉：它克服了臥式飛針測試系統(tǒng)不能同時進行雙面飛針測試的局限。Pilot4D V8配備了8個可移動的電氣測試探針（每側(cè)各有4個），2個腳開焊（Openfix）移動探頭（每側(cè)各有1個），2個可移動的電源針（每側(cè)各有1個），因此，共有14個可移動的測試資源供用戶用于UUT的測試。而可以移動電源針帶給用戶的優(yōu)勢在于：無需任何附加的固定電纜，即可以給UUT接入電源，從而輕松地對其進行功能測試！
Pilot4D V8的測試方法和技術(shù)特點：
FNODE：UUT上的網(wǎng)絡信號分析
標準的模擬和數(shù)字的ICT測試
無矢量測試(JSCAN和OPENFIX), 測試各種IC的開路和短路
PWMON用于電路板加電后的網(wǎng)絡分析
用于檢測電路板印制線開路的導通測試
用于電路板上元器件缺失及反向的自動光學測試
選裝的功能測試和邊界掃描測試
用于數(shù)字器件的在板編程
熱掃描裝置
可以將所有這些測試方法和技術(shù)置于一個測試程序中，這是一項重大創(chuàng)新，意味著可以將諸如與網(wǎng)絡有關(guān)聯(lián)的FNODE和PWMON等測量技術(shù)植入到程序中，用這種有效縮減編程和測試時間的方法，為用戶提供了故障測試覆蓋率高的行之有效并易于操作的全新理念。另外，由于Pilot4D V8具有全部的測試資源，也是由于它具備了Seica所有飛針的配置（單面或雙面，2或 4飛針）因此，它可以運行在所有其它飛針測試系統(tǒng)上生成的任何程序。
VIP平臺
Pilot4D V8是基于Seica的VIP平臺，包括創(chuàng)新的VIVA測試軟件。測試程序僅需要3個步驟既可完成：“準備”、“確認”和“測試”。從軟件開始界面起即引導操作者通過一系列的直觀的、配有自我注釋環(huán)境的自動下行操作頁面進行編程，極大地減少了編程時間，并且將出錯降低至最小甚至消失。
對某些特殊應用，可以深度打開VIP平臺的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，通過如RS232、USB接口、GPIB和PXI/XI協(xié)議接口等，將外部軟件和/ 或硬件輕而易舉地與之集成。
