為了解決上述技術(shù)問題,使壓電陶瓷位移測量更加精準(zhǔn),在通過大量的實(shí)驗(yàn)積累和測試、進(jìn)一步改進(jìn)后得到了一種方便操作、誤差小的測量壓電陶瓷微小位移的裝置。
這種測量壓電陶瓷微小位移的裝置,包括計(jì)算機(jī)、數(shù)據(jù)采集卡、電壓放大器、壓電陶瓷和相移干涉裝置。計(jì)算機(jī)通過控制數(shù)據(jù)采集卡輸出范圍在0V至5V內(nèi)的線性電壓,顯然的,也可以是非線性電壓,然后通過電壓放大器將電壓放大以驅(qū)動壓電陶瓷的運(yùn)動,本優(yōu)選電壓放大器為40倍電壓放大器,壓電陶瓷位移使得相移干涉裝置中的光路產(chǎn)生相移,CCD圖像傳感器采集相移干涉圖像傳給計(jì)算機(jī)處理。將采集的相移干涉圖中干涉圖之間的相移量提取,提取相移干涉條紋圖中中心圓區(qū)域不足一個(gè)條紋的數(shù)據(jù),設(shè)該數(shù)據(jù)共包括T個(gè)像素點(diǎn),并對T個(gè)像素點(diǎn)的光強(qiáng)數(shù)據(jù)作求和處理。
下面圖為這種測量壓電陶瓷微小位移的裝置的示意圖:
圖1是這種測量壓電陶瓷微小位移的裝置結(jié)構(gòu)示意圖
圖2是這種測量壓電陶瓷微小位移的裝置相移干涉裝置結(jié)構(gòu)示意圖
圖3是CCD圖像傳感器采集的相移干涉條紋圖
圖4(a)是相移干涉條紋圖中心圓光強(qiáng)數(shù)據(jù)分布圖
圖4(b)是壓電陶瓷產(chǎn)生位移的運(yùn)動軌跡圖
這種測量壓電陶瓷微小位移的裝置,運(yùn)用相移干涉原理進(jìn)行光路系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),通過相移干涉裝置采集相移干涉圖數(shù)據(jù)傳給計(jì)算機(jī)處理得到壓電陶瓷微小位移,結(jié)構(gòu)簡單、安裝和使用方便,測量精度高,提高了測量的精確度和工作效率。
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