產(chǎn)品詳情
受光面尺寸1cm2標(biāo)準(zhǔn)級(jí)(CIE Class A)光度探測(cè)器,完全符合新ISO/CIE國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)要求。
精密LED機(jī)械定位裝置,精密一體化設(shè)計(jì)中心對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng),測(cè)試條件完全符合CIE pub.27條件A或B。
可選配不同輻射強(qiáng)度測(cè)量探頭實(shí)現(xiàn)紅外LED、紫外LED的輻射強(qiáng)度隨角度分布曲線(xiàn)的配光測(cè)試。
LED光強(qiáng)分布測(cè)試儀技術(shù)特性:
(1) 正向電流IF的測(cè)量范圍: 0.10mA~2000.0 mA
(2) 正向電壓VF的測(cè)量范圍: 0.001V~15.000V
(3) 反向漏電流IR的測(cè)量范圍: 0.10μA~100.00μA
(4) 正向電壓VF的測(cè)量范圍: 0.001V~15.000V
(5) 電性能精度:±0.2級(jí)
(6) 預(yù)熱時(shí)間:0 ms~9999ms
(7) 光強(qiáng):10mcd~200cd
(8) 掃描范圍、掃描間隔多檔可選
(9) 配不同輻射度測(cè)量探頭可實(shí)現(xiàn)紅外、紫外LED輻射強(qiáng)度的測(cè)量(選項(xiàng))
(10) 曲線(xiàn)功能:三維光強(qiáng)/輻射強(qiáng)度分布曲線(xiàn)(極坐標(biāo)或直角坐標(biāo)); 電壓-光強(qiáng)/輻射強(qiáng)度曲線(xiàn); 光電參數(shù)測(cè)試;光強(qiáng)/輻射強(qiáng)度-時(shí)間曲線(xiàn)。


