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檢驗(yàn)方法
1.1條碼檢驗(yàn)在克服傳統(tǒng)檢測(cè)方法缺陷的基礎(chǔ)上，目前已發(fā)展采用條碼綜合質(zhì)量分級(jí)法，即“反射率曲線分析法”。綜合分級(jí)方法根據(jù)掃描反射率曲線和參考譯碼算法進(jìn)行分析、判斷，把外觀上的缺陷轉(zhuǎn)換成缺陷（Defects）、邊緣判定等參數(shù)。檢驗(yàn)結(jié)果給出的是條碼符號(hào)的等級(jí)，表明條碼符號(hào)的適用場(chǎng)合。 2.1 掃描反射率曲線 掃描反射率曲線是用掃描器對(duì)一個(gè)條碼符號(hào)掃描時(shí)，掃描器探測(cè)到條碼符號(hào)的反射率，反射率值與掃描位置有關(guān)。若掃描線是垂直于條的直線，則反射率是以掃描起點(diǎn)為端點(diǎn)的、橫過(guò)整個(gè)條碼符號(hào)的距離（或線性位置）的函數(shù)。以橫坐標(biāo)代表距離或線性位置，以縱坐標(biāo)代表反射率，可以畫出掃描過(guò)程中反射率值與線性位置的關(guān)系曲線即所謂的掃描反射率曲線，見(jiàn)下圖。
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b 最高反射率(R max )： 掃描反射率曲線上最高的反射率值。 d 總閾值(GT—Global Threshold)： 用以在掃描反射率曲線上區(qū)分條、空的一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)反射率值。掃描反射率曲線在總閾值線上方所包的那些區(qū)域，即空；在總閾值線下方所包的那些區(qū)域，即條。或 。 e 條反射率(R b)： 掃描反射率曲線上某條的最低反射率值。 f 空反射率(R s)： 掃描反射率曲線上某空的最高反射率值。 g 單元(element)： 泛指條碼符號(hào)中的條或空。 h 單元邊緣 (element edge)： 掃描反射率曲線上過(guò)毗鄰單元（包括空白區(qū)）的空反射率（ R s ）和條反射率（R b ）中間值（即 ）的點(diǎn)的位置。
i 邊緣判定(edge determination)： 按單元邊緣的定義判定掃描反射率曲線上的單元邊緣。如果兩毗鄰單元之間有多于一個(gè)代表單元邊緣的點(diǎn)存在，或有邊緣丟失，則該掃描反射率曲線為不合格?？瞻讌^(qū)和字符間隔視為空。
k 最小邊緣反差(EC min)： 掃描反射率曲線上所有邊緣反差中的最小值。
m 單元反射率不均勻性(ERN)： 某一單元中最高反射率與最低反射率的差。
o 可譯碼性(decodability)： 與適當(dāng)?shù)膮⒖甲g碼算法相關(guān)的條碼符號(hào)印制精度的量度。
2.3 條碼符號(hào)質(zhì)量評(píng)定
3、檢測(cè)設(shè)備 |
