產(chǎn)品詳情
NACE TM0103-2003標(biāo)準(zhǔn)
在應(yīng)力引導(dǎo)下,夾雜物或缺陷處因氫聚集而形成的小裂紋疊加,沿著垂直于應(yīng)力的方向(即鋼板的壁厚方向)發(fā)展導(dǎo)致的開裂稱為應(yīng)力導(dǎo)向氫致開裂。其典型特征是裂紋沿“之”字形擴(kuò)展。有人認(rèn)為,它也是應(yīng)力腐蝕開裂(SSCC)的一種特殊形式。
SOHIC也常發(fā)生在焊縫熱影響區(qū)及其他高應(yīng)力集中區(qū),與通常所說的SSCC不同的是SOHIC對鋼中的夾雜物比較敏感。應(yīng)力集中常為裂紋狀缺陷或應(yīng)力腐蝕裂紋所引起,據(jù)報道,在多個開裂案例中都曾觀測到SSCC和SOHIC并存的情況.
評價標(biāo)準(zhǔn):
CCL(連續(xù)開裂長度)≤2%,DCL(不連續(xù)開裂長度)≤5%,
TCL(總開裂長度)≤7%;
氫鼓泡:單個試樣表面的氫鼓泡面積不超過試樣面積的1%,且任何一個氫鼓泡的直徑不超過1mm。
還可以從事以下金屬腐蝕測試。
SSC硫化氫應(yīng)力腐蝕:
標(biāo)準(zhǔn)拉伸試驗 標(biāo)準(zhǔn)彎梁試驗 標(biāo)準(zhǔn)C型環(huán)試驗 標(biāo)準(zhǔn)雙懸臂梁試驗
標(biāo)準(zhǔn): NACE TM 0177-2005 NACE RM0175-2000 ASTM G39-99
GB/T4157-2006 ISO15156-2001
抗氫誘導(dǎo)裂紋試驗HIC測試
HIC清脆 :
裂紋敏感性比值CSR 裂紋長度比值CLR 裂紋厚度比值CTR
標(biāo)準(zhǔn):NACE TM 0284-2003 NACE RM0175-2000
《管線鋼和壓力容器鋼抗氫致開裂評定方法》GB/T 8650-2006
歡迎來電咨詢。