產(chǎn)品詳情
帕里，里德(2005)，使用該技術(shù)的兩個獨特優(yōu)勢是能夠在每個熱循環(huán)中完成對所有電路的高速連續(xù)監(jiān)控，并且對于每個的測試電路，應(yīng)力測試會在每個試樣上分別停止，并且電阻增加10%，測得的電阻增加是特定測試電路中積累的損壞程度的直接反映。
高致在線滴定儀維修效率高
我公司專業(yè)維修各種儀器，維修經(jīng)驗二十年，維修的主要品牌有：英國Foundrax、美國GR、美國杰瑞、意大利Gibitre、意大利蓋比特、德國Hildebrand、海德堡、荷蘭Innovatest、德國KB、美國LECO力可、力可、日本Matsuzawa松澤、雷克斯、日本Mitutoyo三豐、瑞士PROCEQ博勢、奧地利Qness、美國Rex雷克斯、丹麥Struers司特爾、日本shimadzu島津、威爾遜等，儀器出現(xiàn)故障聯(lián)系凌科自動化
電信PCB儀器維修在電信行業(yè)中很常見，它們被應(yīng)用于LED顯示器，高頻放大器和濾波設(shè)備中，由于設(shè)備和內(nèi)部的通信PCB，我們可以比以往更快，更清晰，更地相互連接，當(dāng)然，要享受清晰，快速，有效的通信，我們需要合適的電信印刷儀器維修來完成這項工作。 CirVibe在FEM中自動生成殼網(wǎng)格，并評估修改后的模量以考慮組件的附加剛度[43]，在隨機振動下，所有振動模式將同時被激發(fā)，來自多個模式的應(yīng)力會疊加，從而提高了在單個模式應(yīng)力的驅(qū)動下可能遭受的損壞率。
高致在線滴定儀維修效率高
1、顯示屏無法正常顯示
當(dāng)硬度計顯示屏無法正確顯示信息時，先檢查電源是否正確連接。如果電源連接正常但顯示屏仍然不活動，則可能表示屏幕出現(xiàn)故障。這種情況，建議將硬度計送回廠家維修或更換屏幕。
2、讀數(shù)不穩(wěn)定或顯著偏差
如果硬度計在測試過程中顯示讀數(shù)不穩(wěn)定或出現(xiàn)明顯偏差，可能的原因包括：
缺乏校準(zhǔn)：硬度計在使用前需要校準(zhǔn)，以確保準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。長期缺乏校準(zhǔn)或校準(zhǔn)不當(dāng)可能會導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確。解決方案是定期校準(zhǔn)并遵循硬度計手冊中的說明。
測試環(huán)境不穩(wěn)定：硬度測試應(yīng)在穩(wěn)定的環(huán)境下進(jìn)行，避免外界干擾。不良的測試環(huán)境可能會導(dǎo)致讀數(shù)不穩(wěn)定。解決辦法是測試時選擇安靜且溫度穩(wěn)定的環(huán)境，避免其他設(shè)備的干擾。
樣品制備不當(dāng)：在硬度測試之前，必須對樣品進(jìn)行的制備。樣品的表面不規(guī)則性、雜質(zhì)或涂層可能會影響測試結(jié)果。解決方案是在測試前清潔和拋光樣品，以確保表面光滑。
在阻焊層中也發(fā)現(xiàn)它是被吸收的殘留物，并且可以通過阻焊層或在阻焊層上方導(dǎo)電，低于3.0米克/英寸2的水具有良好的現(xiàn)場性能，17銨(NH4+)銨可以是氨(NH3)與氫離子發(fā)生化學(xué)反應(yīng)的產(chǎn)物，當(dāng)氨的一個或多個氫原子被有機取代基(例如烷基和芳基)取代時。 由二價陽離子引起的電導(dǎo)率因子比一價陽離子更大，上面的陳述不適用于陰離子，例如，氯化物(Cl-)，硫酸鹽(SO42-)和鹽(NO3-)的79電導(dǎo)率分別為每mg/L2.1.54和1.15米S/cm，在測試的粉塵樣品中。 粉塵水溶液的電導(dǎo)率還可以由離子濃度確定，因為它是離子種類和水中方程式(2)所示的函數(shù)，但是，粉塵溶液的電導(dǎo)率不是評估的標(biāo)準(zhǔn)，由于水膜是發(fā)生電離的前提條件，如果沒有連續(xù)的水膜，則無法形成帶有離子的導(dǎo)電路徑。
3、壓頭磨損或損壞
硬度計的壓頭直接接觸測試樣品，長時間使用后可能會出現(xiàn)磨損或損壞。當(dāng)壓頭出現(xiàn)磨損或損壞跡象時，可能會導(dǎo)致測試錯誤。解決辦法是定期檢查壓頭的狀況，如果發(fā)現(xiàn)明顯磨損或損壞，應(yīng)及時更換。
4、讀數(shù)異常大或小
如果硬度計讀數(shù)明顯偏離標(biāo)準(zhǔn)值，可能的原因包括：
壓力調(diào)整不當(dāng)：硬度計在測試時需要施加一定的壓力，壓力過大或不足都可能導(dǎo)致讀數(shù)異常。解決方法是根據(jù)樣品的硬度特性調(diào)整測試壓力。
硬度計的內(nèi)部問題：硬度計的內(nèi)部組件可能會出現(xiàn)故障，導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確。解決辦法是對硬度計進(jìn)行定期維護(hù)，并按照制造商的說明進(jìn)行維修或更換部件。
5、無法執(zhí)行自動轉(zhuǎn)換
一些先進(jìn)的硬度計具有自動轉(zhuǎn)換功能，但有時可能無法運行。解決方法是檢查硬度計設(shè)置，確保正確選擇硬度標(biāo)準(zhǔn)和換算單位
將一個小的交流電勢信號添加到該組件，交流信號的幅度通常選擇為比組件的工作電壓小得多，通過該組件的總電流可以分解為DC和AC部分，47組件兩端的總電壓可以計算為:組件的阻抗測量為Z(w)dVdiZr在下文中。 簡介當(dāng)IBM推出IBMSimon設(shè)備時，這標(biāo)志著智能手機領(lǐng)域的開始[1]，將電話功能與PDA功能相結(jié)合是我們通信時代的一個重要里程碑，但是，盡管該設(shè)備非常，但它并不真正適合自己的背心口袋，它的總重量為510g。 84相反，在FEM中可以假定為剛性的地板，坐墊和所有類型的邊界的靈活性，可能會顯著影響實際結(jié)構(gòu)的固有頻率和振型[52]，測試結(jié)束時，PDIP的導(dǎo)線沒有任何明顯的故障，實際上，銷短并且橫截面尺寸相對較大。
我們不希望手機在腰部高度下降后會發(fā)生故障，但是在下降高度時，我們又應(yīng)歸咎于由我們造成的故障嗎當(dāng)涉及電子系統(tǒng)可靠性建模和預(yù)測時，我們真的不知道LCEP的所有機制或分布。即使知道了所有的退化模型，也知道了裝配中應(yīng)力分布和效果的所有組合，專注于真正的缺陷發(fā)現(xiàn)–無需猜測非常不確定的未來隨著新電子產(chǎn)品的設(shè)計和制造周期時間的不斷減少，我們甚至沒有更多的時間來建模部分或整個系統(tǒng)以及由此造成的疲勞損傷和退化。即使我們能夠?qū)WB中每個潛在故障機制的退化和疲勞破壞進(jìn)行建模，這些模型也必須基于有能力制造的單位，而不是變化，并且我們知道會存在變化。此外，建模只能基于已知LCEP分布中心附的固有磨損機制來確定故障率，即使在設(shè)計產(chǎn)品時可能還不知道會有新的應(yīng)用和不同的未來LCEP。
實驗和數(shù)值(有限元分析)固有頻率不匹配的原因有很多，一個重要的問題是，實驗條件和有限元分析(FEA)之間的邊界條件可能有所不同，通常很難在實驗測試(透射率測試或模態(tài)測試)中復(fù)制與構(gòu)造有限元模型(FEM)時使用的相同邊界條件。 問題在于這些選項中的許多選項都增加了設(shè)計成本，1.增加凸點引線上的電鍍厚度2.將預(yù)成型件放置在接地凸耳上3.增加凸點引線上的焊膏厚度4.移除元件下方的阻焊層5.阻焊層窗口設(shè)計6.更高的銅重量，結(jié)論由于組件尺寸的小型化。 ，件包，它具有三個調(diào)整級別(標(biāo)準(zhǔn)，標(biāo)準(zhǔn)增強和專業(yè))，被認(rèn)為是高端商業(yè)級軟件包，它具有許多高端功能，包括信號完整性分析功能，的自動布線器，熱設(shè)計考慮因素分析以及對各種項目管理功能的支持，三種不同版本的PADS具有不同的功能。 90%RH和10VDC)下評估了粉塵對電化學(xué)遷移和腐蝕的影響，除了只能獲得電阻數(shù)據(jù)的常規(guī)直流測量之外，采用電化學(xué)阻抗譜來獲得電化學(xué)過程的非線性等效電路模型，這有助于理解潛在的故障物理，阻抗隨相對濕度的變化表現(xiàn)出過渡范圍。 設(shè)計具有成本競爭力的電力電子系統(tǒng)需要仔細(xì)考慮熱域和電域，過度設(shè)計系統(tǒng)會增加不必要的成本和重量,設(shè)計不當(dāng)可能會導(dǎo)致過熱甚至系統(tǒng)故障，尋找優(yōu)化的解決方案需要對如何預(yù)測系統(tǒng)電源組件的工作溫度以及這些組件產(chǎn)生的熱量如何影響相鄰設(shè)備(例如電容器和微控制器)有很好的了解。
例如創(chuàng)建圓形注釋，箭頭，添加文本或調(diào)整顏色。電子行業(yè)中的大多數(shù)人，尤其是涉及印刷制造的人，都充分意識到自動光學(xué)檢查（AOI）的優(yōu)勢。由于AOI可以提供手動檢查無法匹敵的質(zhì)量控制的一致性和可靠性，因此它已成為普遍的檢查方法，尤其是在大批量生產(chǎn)環(huán)境中。事實上，在許多地方，在當(dāng)今快速發(fā)展的商業(yè)環(huán)境中，手動檢查甚至根本不可行，因為在這種中，的準(zhǔn)確性和輸出是商業(yè)環(huán)境的基石。但是，您可能從未聽說過的自動光學(xué)檢查可能有一些優(yōu)勢，這些優(yōu)勢可以為AOI方法帶來更多價值。變更追蹤自動光學(xué)檢查有一個內(nèi)在的優(yōu)勢，而手動檢查根本沒有這種優(yōu)勢。每當(dāng)執(zhí)行AOI程序時，已知好的的圖像都會存儲在系統(tǒng)中，因此可以在以后的任何日期參考。
片上網(wǎng)絡(luò)VLSI架構(gòu)是通過優(yōu)化電路解決方案來補償工藝變化的示例。換句話說，設(shè)備芯片代表由數(shù)十個甚至數(shù)百個具有眾多互連的模塊組成的矩陣。該架構(gòu)通過補償各種不穩(wěn)定因素，為諸如節(jié)能，同步，連續(xù)性能監(jiān)控以及IC運行維護(hù)等問題提供了解決方案。對具有45nm的結(jié)構(gòu)組件的本地計算模塊的幾何參數(shù)的估計提供了2×2mm2的幾何區(qū)域，在其中可以容納多達(dá)3·106個晶體管和必要的信號連接。足以實現(xiàn)帶有本地存儲器，開關(guān)和附加功能單元的基本處理單元。提出的NoC架構(gòu)不僅可以優(yōu)化整個系統(tǒng)的能耗，還可以提高其可靠性。為此，每個模塊都配有內(nèi)置的控制設(shè)備，這些設(shè)備可以管理操作模式，并在環(huán)境溫度，冷卻條件變化或組件參數(shù)下降時監(jiān)視正確的功能模塊和芯片的保存情況。
高致在線滴定儀維修效率高如果這些失敗，則儀器維修的電氣功能將受到損害。一種流行的電子元器件壽命預(yù)測方法是Steinberg，哪里：B=行于組件的PCB邊的長度（英寸）L=電子元件的長度（英寸）h=PCB的高度或厚度（英寸）C=不同類型電子元件的常數(shù)r=相對位置系數(shù)常數(shù)C是一個基于要評估的電子組件類型的因子，下表包含要在Z表達(dá)式中使用的值。常數(shù)r是相對位置因子，定義如下：r=1.0表示中心位置。r=0.707表示朝向邊緣中心的位??置。r=0.5表示拐角位置。一旦計算出Z，就可以獲得板中心的3-sigma位移，并將其與Z進(jìn)行比較以評估疲勞壽命。如果3-sigma位移小于Z，則預(yù)期該組件將至少實現(xiàn)2000萬次循環(huán)。這種組件預(yù)測的方法是非?；A(chǔ)的。 kjbaeedfwerfws
高致在線滴定儀維修效率高
我公司專業(yè)維修各種儀器，維修經(jīng)驗二十年，維修的主要品牌有：英國Foundrax、美國GR、美國杰瑞、意大利Gibitre、意大利蓋比特、德國Hildebrand、海德堡、荷蘭Innovatest、德國KB、美國LECO力可、力可、日本Matsuzawa松澤、雷克斯、日本Mitutoyo三豐、瑞士PROCEQ博勢、奧地利Qness、美國Rex雷克斯、丹麥Struers司特爾、日本shimadzu島津、威爾遜等，儀器出現(xiàn)故障聯(lián)系凌科自動化
電信PCB儀器維修在電信行業(yè)中很常見，它們被應(yīng)用于LED顯示器，高頻放大器和濾波設(shè)備中，由于設(shè)備和內(nèi)部的通信PCB，我們可以比以往更快，更清晰，更地相互連接，當(dāng)然，要享受清晰，快速，有效的通信，我們需要合適的電信印刷儀器維修來完成這項工作。 CirVibe在FEM中自動生成殼網(wǎng)格，并評估修改后的模量以考慮組件的附加剛度[43]，在隨機振動下，所有振動模式將同時被激發(fā)，來自多個模式的應(yīng)力會疊加，從而提高了在單個模式應(yīng)力的驅(qū)動下可能遭受的損壞率。
高致在線滴定儀維修效率高
1、顯示屏無法正常顯示
當(dāng)硬度計顯示屏無法正確顯示信息時，先檢查電源是否正確連接。如果電源連接正常但顯示屏仍然不活動，則可能表示屏幕出現(xiàn)故障。這種情況，建議將硬度計送回廠家維修或更換屏幕。
2、讀數(shù)不穩(wěn)定或顯著偏差
如果硬度計在測試過程中顯示讀數(shù)不穩(wěn)定或出現(xiàn)明顯偏差，可能的原因包括：
缺乏校準(zhǔn)：硬度計在使用前需要校準(zhǔn)，以確保準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。長期缺乏校準(zhǔn)或校準(zhǔn)不當(dāng)可能會導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確。解決方案是定期校準(zhǔn)并遵循硬度計手冊中的說明。
測試環(huán)境不穩(wěn)定：硬度測試應(yīng)在穩(wěn)定的環(huán)境下進(jìn)行，避免外界干擾。不良的測試環(huán)境可能會導(dǎo)致讀數(shù)不穩(wěn)定。解決辦法是測試時選擇安靜且溫度穩(wěn)定的環(huán)境，避免其他設(shè)備的干擾。
樣品制備不當(dāng)：在硬度測試之前，必須對樣品進(jìn)行的制備。樣品的表面不規(guī)則性、雜質(zhì)或涂層可能會影響測試結(jié)果。解決方案是在測試前清潔和拋光樣品，以確保表面光滑。
在阻焊層中也發(fā)現(xiàn)它是被吸收的殘留物，并且可以通過阻焊層或在阻焊層上方導(dǎo)電，低于3.0米克/英寸2的水具有良好的現(xiàn)場性能，17銨(NH4+)銨可以是氨(NH3)與氫離子發(fā)生化學(xué)反應(yīng)的產(chǎn)物，當(dāng)氨的一個或多個氫原子被有機取代基(例如烷基和芳基)取代時。 由二價陽離子引起的電導(dǎo)率因子比一價陽離子更大，上面的陳述不適用于陰離子，例如，氯化物(Cl-)，硫酸鹽(SO42-)和鹽(NO3-)的79電導(dǎo)率分別為每mg/L2.1.54和1.15米S/cm，在測試的粉塵樣品中。 粉塵水溶液的電導(dǎo)率還可以由離子濃度確定，因為它是離子種類和水中方程式(2)所示的函數(shù)，但是，粉塵溶液的電導(dǎo)率不是評估的標(biāo)準(zhǔn)，由于水膜是發(fā)生電離的前提條件，如果沒有連續(xù)的水膜，則無法形成帶有離子的導(dǎo)電路徑。
3、壓頭磨損或損壞
硬度計的壓頭直接接觸測試樣品，長時間使用后可能會出現(xiàn)磨損或損壞。當(dāng)壓頭出現(xiàn)磨損或損壞跡象時，可能會導(dǎo)致測試錯誤。解決辦法是定期檢查壓頭的狀況，如果發(fā)現(xiàn)明顯磨損或損壞，應(yīng)及時更換。
4、讀數(shù)異常大或小
如果硬度計讀數(shù)明顯偏離標(biāo)準(zhǔn)值，可能的原因包括：
壓力調(diào)整不當(dāng)：硬度計在測試時需要施加一定的壓力，壓力過大或不足都可能導(dǎo)致讀數(shù)異常。解決方法是根據(jù)樣品的硬度特性調(diào)整測試壓力。
硬度計的內(nèi)部問題：硬度計的內(nèi)部組件可能會出現(xiàn)故障，導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確。解決辦法是對硬度計進(jìn)行定期維護(hù)，并按照制造商的說明進(jìn)行維修或更換部件。
5、無法執(zhí)行自動轉(zhuǎn)換
一些先進(jìn)的硬度計具有自動轉(zhuǎn)換功能，但有時可能無法運行。解決方法是檢查硬度計設(shè)置，確保正確選擇硬度標(biāo)準(zhǔn)和換算單位
將一個小的交流電勢信號添加到該組件，交流信號的幅度通常選擇為比組件的工作電壓小得多，通過該組件的總電流可以分解為DC和AC部分，47組件兩端的總電壓可以計算為:組件的阻抗測量為Z(w)dVdiZr在下文中。 簡介當(dāng)IBM推出IBMSimon設(shè)備時，這標(biāo)志著智能手機領(lǐng)域的開始[1]，將電話功能與PDA功能相結(jié)合是我們通信時代的一個重要里程碑，但是，盡管該設(shè)備非常，但它并不真正適合自己的背心口袋，它的總重量為510g。 84相反，在FEM中可以假定為剛性的地板，坐墊和所有類型的邊界的靈活性，可能會顯著影響實際結(jié)構(gòu)的固有頻率和振型[52]，測試結(jié)束時，PDIP的導(dǎo)線沒有任何明顯的故障，實際上，銷短并且橫截面尺寸相對較大。
我們不希望手機在腰部高度下降后會發(fā)生故障，但是在下降高度時，我們又應(yīng)歸咎于由我們造成的故障嗎當(dāng)涉及電子系統(tǒng)可靠性建模和預(yù)測時，我們真的不知道LCEP的所有機制或分布。即使知道了所有的退化模型，也知道了裝配中應(yīng)力分布和效果的所有組合，專注于真正的缺陷發(fā)現(xiàn)–無需猜測非常不確定的未來隨著新電子產(chǎn)品的設(shè)計和制造周期時間的不斷減少，我們甚至沒有更多的時間來建模部分或整個系統(tǒng)以及由此造成的疲勞損傷和退化。即使我們能夠?qū)WB中每個潛在故障機制的退化和疲勞破壞進(jìn)行建模，這些模型也必須基于有能力制造的單位，而不是變化，并且我們知道會存在變化。此外，建模只能基于已知LCEP分布中心附的固有磨損機制來確定故障率，即使在設(shè)計產(chǎn)品時可能還不知道會有新的應(yīng)用和不同的未來LCEP。
實驗和數(shù)值(有限元分析)固有頻率不匹配的原因有很多，一個重要的問題是，實驗條件和有限元分析(FEA)之間的邊界條件可能有所不同，通常很難在實驗測試(透射率測試或模態(tài)測試)中復(fù)制與構(gòu)造有限元模型(FEM)時使用的相同邊界條件。 問題在于這些選項中的許多選項都增加了設(shè)計成本，1.增加凸點引線上的電鍍厚度2.將預(yù)成型件放置在接地凸耳上3.增加凸點引線上的焊膏厚度4.移除元件下方的阻焊層5.阻焊層窗口設(shè)計6.更高的銅重量，結(jié)論由于組件尺寸的小型化。 ，件包，它具有三個調(diào)整級別(標(biāo)準(zhǔn)，標(biāo)準(zhǔn)增強和專業(yè))，被認(rèn)為是高端商業(yè)級軟件包，它具有許多高端功能，包括信號完整性分析功能，的自動布線器，熱設(shè)計考慮因素分析以及對各種項目管理功能的支持，三種不同版本的PADS具有不同的功能。 90%RH和10VDC)下評估了粉塵對電化學(xué)遷移和腐蝕的影響，除了只能獲得電阻數(shù)據(jù)的常規(guī)直流測量之外，采用電化學(xué)阻抗譜來獲得電化學(xué)過程的非線性等效電路模型，這有助于理解潛在的故障物理，阻抗隨相對濕度的變化表現(xiàn)出過渡范圍。 設(shè)計具有成本競爭力的電力電子系統(tǒng)需要仔細(xì)考慮熱域和電域，過度設(shè)計系統(tǒng)會增加不必要的成本和重量,設(shè)計不當(dāng)可能會導(dǎo)致過熱甚至系統(tǒng)故障，尋找優(yōu)化的解決方案需要對如何預(yù)測系統(tǒng)電源組件的工作溫度以及這些組件產(chǎn)生的熱量如何影響相鄰設(shè)備(例如電容器和微控制器)有很好的了解。
例如創(chuàng)建圓形注釋，箭頭，添加文本或調(diào)整顏色。電子行業(yè)中的大多數(shù)人，尤其是涉及印刷制造的人，都充分意識到自動光學(xué)檢查（AOI）的優(yōu)勢。由于AOI可以提供手動檢查無法匹敵的質(zhì)量控制的一致性和可靠性，因此它已成為普遍的檢查方法，尤其是在大批量生產(chǎn)環(huán)境中。事實上，在許多地方，在當(dāng)今快速發(fā)展的商業(yè)環(huán)境中，手動檢查甚至根本不可行，因為在這種中，的準(zhǔn)確性和輸出是商業(yè)環(huán)境的基石。但是，您可能從未聽說過的自動光學(xué)檢查可能有一些優(yōu)勢，這些優(yōu)勢可以為AOI方法帶來更多價值。變更追蹤自動光學(xué)檢查有一個內(nèi)在的優(yōu)勢，而手動檢查根本沒有這種優(yōu)勢。每當(dāng)執(zhí)行AOI程序時，已知好的的圖像都會存儲在系統(tǒng)中，因此可以在以后的任何日期參考。
片上網(wǎng)絡(luò)VLSI架構(gòu)是通過優(yōu)化電路解決方案來補償工藝變化的示例。換句話說，設(shè)備芯片代表由數(shù)十個甚至數(shù)百個具有眾多互連的模塊組成的矩陣。該架構(gòu)通過補償各種不穩(wěn)定因素，為諸如節(jié)能，同步，連續(xù)性能監(jiān)控以及IC運行維護(hù)等問題提供了解決方案。對具有45nm的結(jié)構(gòu)組件的本地計算模塊的幾何參數(shù)的估計提供了2×2mm2的幾何區(qū)域，在其中可以容納多達(dá)3·106個晶體管和必要的信號連接。足以實現(xiàn)帶有本地存儲器，開關(guān)和附加功能單元的基本處理單元。提出的NoC架構(gòu)不僅可以優(yōu)化整個系統(tǒng)的能耗，還可以提高其可靠性。為此，每個模塊都配有內(nèi)置的控制設(shè)備，這些設(shè)備可以管理操作模式，并在環(huán)境溫度，冷卻條件變化或組件參數(shù)下降時監(jiān)視正確的功能模塊和芯片的保存情況。
高致在線滴定儀維修效率高如果這些失敗，則儀器維修的電氣功能將受到損害。一種流行的電子元器件壽命預(yù)測方法是Steinberg，哪里：B=行于組件的PCB邊的長度（英寸）L=電子元件的長度（英寸）h=PCB的高度或厚度（英寸）C=不同類型電子元件的常數(shù)r=相對位置系數(shù)常數(shù)C是一個基于要評估的電子組件類型的因子，下表包含要在Z表達(dá)式中使用的值。常數(shù)r是相對位置因子，定義如下：r=1.0表示中心位置。r=0.707表示朝向邊緣中心的位??置。r=0.5表示拐角位置。一旦計算出Z，就可以獲得板中心的3-sigma位移，并將其與Z進(jìn)行比較以評估疲勞壽命。如果3-sigma位移小于Z，則預(yù)期該組件將至少實現(xiàn)2000萬次循環(huán)。這種組件預(yù)測的方法是非?；A(chǔ)的。 kjbaeedfwerfws
