主營產品：半導體分立器件靜態(tài)動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)
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￥259000.00
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| 詳細參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 美瑞克 | 型號 | ST-HTXB |
| 類型 | 電參數(shù)測量儀 | 測量對象 | Diode,BJT,MOS-FET,SCR,橋堆, |
| 測量范圍 | 1nA~20mA,2000V,3000V | 測量精度 | 1°C,1%,1LSB |
| 頻率 | 50hz | 功率 | ≤15KW |
| 電源 | 220v | 加工定制 | 否 |
| 外形尺寸 | 其他 | 重量 | 300kg |
| 產地 | 陜西省西安市 | ||
環(huán)境老化試驗系統(tǒng)ST-HTXB
陜西天士立科技有限公司
專注半導體檢測·電學檢測·可靠性檢測·老化實驗
環(huán)境老化試驗系統(tǒng)ST-HTXB
基礎信息
1. 適用于各種封裝類型的Diode、BJT、MOS-FET、SCR、橋堆、IGBT單管/模塊、IPM模塊等環(huán)境老化試驗
2. 包括高溫反偏/HTRB，高溫柵偏/HTGB，高溫高濕反偏試
3. 驗/H3TRB，其中HTRB和HTGB可二合一
4. 漏電流檢測1nA~20mA，高壓2000V@3000V
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環(huán)境老化試驗系統(tǒng)ST-HTXB
主要配置
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環(huán)境老化試驗系統(tǒng)ST-HTXB
性能指標
環(huán)境老化試驗系統(tǒng)ST-HTXB
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